EUV emission spectra in collisions of multiply charged Sn ions with He and Xe

H. Ohashi*, S. Suda, H. Tanuma, S. Fujioka, H. Nishimura, A. Sasaki, K. Nishihara

*この論文の責任著者

研究成果: ジャーナルへの寄稿学術論文査読

46 被引用数 (Scopus)

抄録

Extreme ultraviolet emission spectra of multiply charged Sn ions were measured in the wavelength range 5-38 nm, following electron capture into the excited states of slow Snq + (q = 5-21) ions passing through He and Xe gas targets. Identification of the transitions was carried out by comparison with calculations using the Hebrew University Livermore Laboratory Atomic physics Code. The target and the charge-state dependences of 4d-nℓ (nℓ = 4f, 5p and 5f) and 4p-4d transitions were observed.

本文言語英語
論文番号065204
ジャーナルJournal of Physics B: Atomic, Molecular and Optical Physics
43
6
DOI
出版ステータス出版済み - 2010

ASJC Scopus 主題領域

  • 原子分子物理学および光学
  • 凝縮系物理学

フィンガープリント

「EUV emission spectra in collisions of multiply charged Sn ions with He and Xe」の研究トピックを掘り下げます。これらがまとまってユニークなフィンガープリントを構成します。

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