メインナビゲーションにスキップ
検索にスキップ
メインコンテンツにスキップ
富山大学 ホーム
日本語
English
ホーム
プロファイル
研究部門
プロジェクト
研究成果
データセット
受賞
活動
コース
専門知識、名前、または所属機関で検索
Application of ion beam and electron beam by plasma focus device to material processing
Z. P. Wang
*
, H. R. Yousefi, Y. Nishino,
H. Ito
, K. Masugata
*
この論文の責任著者
工学科 電気電子工学コース
研究成果
:
会議への寄与
›
学会論文
›
査読
概要
フィンガープリント
フィンガープリント
「Application of ion beam and electron beam by plasma focus device to material processing」の研究トピックを掘り下げます。これらがまとまってユニークなフィンガープリントを構成します。
並べ替え順
重み付け
アルファベット順
Keyphrases
Electron Beam
100%
Ion Beam
100%
Plasma Focus Device
100%
Beam-beam
100%
Materials Processing
100%
Indentor
100%
Silicon Carbide Film
100%
X-ray Diffractometer
50%
Preparation Method
50%
Field Emission Scanning Electron Microscopy (FE-SEM)
50%
Surface Layer
50%
Fourier Transform Infrared Spectroscopy (FT-IR)
50%
Mechanical Hardness
50%
Dense Plasma Focus Device
50%
Scanning Electron Microscope Image
50%
Axial Position
50%
3C-silicon Carbide
50%
Characteriza-tion
50%
Physics
Electron Beam
100%
Plasma Focus
100%
Silicon Carbide
100%
Ion Beam
100%
Scanning Electron Microscopy
66%
Diffractometers
33%
Polycrystalline
33%
Field Emission
33%
Dense Plasmas
33%
Surface Layers
33%
FTIR Spectroscopy
33%
Porosity
33%
Engineering
Polycrystalline
100%
Field-Emission Scanning Electron Microscopy
100%
Surface Layers
100%
Porosity
100%
FTIR Spectroscopy
100%
Material Science
Film
100%
Silicon Carbide
100%
Material Processing
100%
Silicon
33%
Scanning Electron Microscopy
33%
Fourier Transform Infrared Spectroscopy
33%
Field Emission Scanning Electron Microscopy
33%
Surface (Surface Science)
33%