Si(001)基板上での傾斜(111)面と単分子層を利用した薄膜形成

  • Saito, Mitsufumi (研究代表者)

プロジェクトの詳細

研究概要

本研究では、Si基板上における良質なInSb, AlInSb薄膜の形成を目指した。Si基板上での低消費電力高速論理回路のためのInSb-basedデバイス集積化を将来的な目標とする。Si基板とInSb,AlInSb間の大きな格子不整合の問題を解決するために、1)InSb/Si, AlInSb/Si間にInSb単分子層の導入2)Si(001)基板上に傾斜(111)面の形成、を行うことで、従来の直接成長と比べ、薄く品質の良い薄膜形成が可能である事を示した。
ステータス終了
有効開始/終了日2007/01/012008/12/31

資金調達

  • Japan Society for the Promotion of Science: ¥2,270,000

キーワード

  • ヘテロエピタキシャル成長
  • インジウムアンチモン(InSb)
  • シリコン(Si)
  • MBE
  • InSb
  • Si