Measurement of EUV spectra from high Z elements in the large helical device

C. Suzuki*, T. Kato, H. A. Sakaue, D. Kato, I. Murakami, K. Sato, N. Tamura, S. Sudo, N. Yamamoto, H. Tanuma, H. Ohashi, R. D'Arcy, C. S. Harte, G. O'Sullivan

*この論文の責任著者

研究成果: 書籍の章/レポート/会議録会議への寄与査読

2 被引用数 (Scopus)

フィンガープリント

「Measurement of EUV spectra from high Z elements in the large helical device」の研究トピックを掘り下げます。これらがまとまってユニークなフィンガープリントを構成します。

Keyphrases

Physics

Engineering