抄録
The local structure of bismuth film deposited at liquid nitrogen temperature was investigated by the extended X-ray absorption fine structure (EXAFS) analysis. In the Fourier transform of EXAFS function the peak originated from the intralayer first nearest neighbor (1NN) correlation exists while that originated from the interlayer 1NN correlation disappears. This suggests that the primary structure remains but the secondary structure is disrupted.
本文言語 | 英語 |
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ページ(範囲) | 110-112 |
ページ数 | 3 |
ジャーナル | e-Journal of Surface Science and Nanotechnology |
巻 | 11 |
DOI | |
出版ステータス | 出版済み - 2013/10/19 |
ASJC Scopus 主題領域
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- 表面、皮膜および薄膜