EUV spectroscopy of highly charged ions with high- and low-energy EBITs

Junji Yatsurugi*, Etsushi Watanabe, Hayato Ohashi, Hiroyuki A. Sakaue, Nobuyuki Nakamura

*この論文の責任著者

研究成果: ジャーナルへの寄稿会議記事査読

13 被引用数 (Scopus)

抄録

Spectra of highly charged ions in the extreme ultraviolet range were observed using high- and low-energy electron beam ion traps (EBITs) in Tokyo. For efficient observation, a slitless grazing incidence flat field spectrometer was specially designed for each EBIT. The present results demonstrate that the complementary use of these spectrometers enable spectroscopic studies of ions with a wide range of charge states.

本文言語英語
論文番号014031
ジャーナルPhysica Scripta T
T144
DOI
出版ステータス出版済み - 2011
イベント15th International Conference on the Physics of Highly Charged Ions, HCI2010 - Shanghai, 中国
継続期間: 2010/08/292010/09/03

ASJC Scopus 主題領域

  • 原子分子物理学および光学
  • 数理物理学
  • 凝縮系物理学

フィンガープリント

「EUV spectroscopy of highly charged ions with high- and low-energy EBITs」の研究トピックを掘り下げます。これらがまとまってユニークなフィンガープリントを構成します。

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