Application of silicon strip detectors to X-ray computed tomography

Shoichi Yoshida*, Takashi Ohsugi

*この論文の責任著者

研究成果: ジャーナルへの寄稿会議記事査読

14 被引用数 (Scopus)

抄録

Since diagnostic X-rays have been proven to be a cause of cancer, some precautions are essential to reduce the dose delivered to patients. In this paper, an idea to reduce the dose by a new type of X-ray computed tomography (CT) using silicon strip detectors is discussed. Thin tungsten plates placed between edge-on silicon strip detectors are the key element to reduce the background of scattered X-rays and improve the image contrast with low dose. The initial results of a feasibility study are also reported.

本文言語英語
ページ(範囲)412-420
ページ数9
ジャーナルNuclear Inst. and Methods in Physics Research, A
541
1-2
DOI
出版ステータス出版済み - 2005/04/01
イベントDevelopment and Application of semiconductor Tracking Detectors -
継続期間: 2004/06/142004/06/17

ASJC Scopus 主題領域

  • 核物理学および高エネルギー物理学
  • 器械工学

フィンガープリント

「Application of silicon strip detectors to X-ray computed tomography」の研究トピックを掘り下げます。これらがまとまってユニークなフィンガープリントを構成します。

引用スタイル