析出物／マトリックス界面構造制御による点欠陥消滅促進の機構論的解明

析出物／マトリックス界面は点欠陥のシンクとして働くことは知られているが、その構造とシンク効果の関係は不明な点が多い。本研究では、Cu-Cr系のCr析出物/マトリックス界面や、オーステナイトステンレス鋼の炭化物・シリサイド／マトリックス界面を3次元アトムプローブにより解析し、それらの照射下での点欠陥集合体の形成挙動から特定の方位関係にある析出物／マトリックス界面が強いニュートラルシンクとして働くことを見出した。