Phase transitions of bismuth clusters

H. Ikemoto*, T. Miyanaga, T. Kiuchi

*この論文の責任著者

研究成果: ジャーナルへの寄稿学術論文査読

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抄録

X-ray diffraction patterns, extended X-ray absorption fine structure, and optical absorption coefficients were measured in order to investigate the size-dependence of structural and optical phase transitions of bismuth clusters. Contrary to the case of 15-nm thick films, peaks due to crystalline Bi were not observed in X-ray diffraction patterns of as-deposited 0.5-nm thick films. Optical absorption coefficients of the 0.5-nm thick films are small compared with those of 100-nm thick films, and an optical gap appears in the 0.5-nm thick films. These results show directly the phase transition of bismuth clusters from semi-metallic nanocrystalline to semiconducting amorphous-like clusters with decreasing size.

本文言語英語
ページ(範囲)3394-3398
ページ数5
ジャーナルJournal of Non-Crystalline Solids
353
32-40
DOI
出版ステータス出版済み - 2007/10/15

ASJC Scopus 主題領域

  • 電子材料、光学材料、および磁性材料
  • セラミックおよび複合材料
  • 凝縮系物理学
  • 材料化学

フィンガープリント

「Phase transitions of bismuth clusters」の研究トピックを掘り下げます。これらがまとまってユニークなフィンガープリントを構成します。

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