抄録
We have investigated the temperature (T) dependence of Hall coefficient (RH) and thermoelectric power (TEP) in Y1-xUxPd3 and Y1-xUxRu2Si2. For Y1-xUxPd3, RH(T) roughly follows ∼ χρ expected for the ordinary skew scattering. At high temperatures, RH for Y1-xUxRu2Si2 also follows ∼ χρ, however, it sharply decreases below ∼ 40 K. TEP also exhibits a clear drop below ∼ 40 K followed by a sharp minimum near 8 K.
本文言語 | 英語 |
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ページ(範囲) | 390-391 |
ページ数 | 2 |
ジャーナル | Physica B: Condensed Matter |
巻 | 259-261 |
DOI | |
出版ステータス | 出版済み - 1999 |
ASJC Scopus 主題領域
- 電子材料、光学材料、および磁性材料
- 凝縮系物理学
- 電子工学および電気工学