山口昌樹 (考案者), 清水忠道 (考案者), 牧野輝彦 (考案者)
研究成果: 工業所有権 › 特許
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TY - PAT
T1 - 皮膚カテプシンの分析方法,皮膚の光ストレスの判定方法およびそのためのキット
AU - 山口昌樹,
AU - 清水忠道,
AU - 牧野輝彦,
PY - 2008
Y1 - 2008
M3 - 特許
M1 - 2008-053577
ER -