廣林茂樹 (考案者), 両澤淳 (考案者), 鄭昌鎬 (考案者)
研究成果: 工業所有権 › 特許
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TY - PAT
T1 - 光断層画表示システム
AU - 廣林茂樹,
AU - 両澤淳,
AU - 鄭昌鎬,
PY - 2009
Y1 - 2009
M3 - 特許
ER -