視床下部ペプチドによるうつの制御機構の破綻がインスリン抵抗性を惹起する機序の解明

うつ状態においてインスリン抵抗性が増大し、糖尿病の発症リスクが増加するメカニズムを解明するため、社会性敗北ストレス負荷マウスの糖代謝機能の変化を解析し、慢性的なうつが耐糖能障害およびインスリン抵抗性を誘発することを実証した。さらにその機序に視床下部オレキシン神経系が関与することを見出し、うつと関連した2型糖尿病の発症に対し、オレキシン神経系が重要な治療標的である可能性を示した。