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薄膜構造評価用X線回折装置
研究推進機構自然科学研究支援ユニット機器分析施設
施設/設備
:
設備
場所
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総合研究棟2階 超薄膜構造解析X線回折装置室 (E3)
日本
概要
設備の詳細
説明
試料にX線を照射し、回折角を測定することにより結晶相の同定を行う。
初めて利用する場合は、利用前に要講習。
詳細
名前
ATX-E
取得日
2002/01/01
連絡先情報
リンク
Web サイト