薄膜構造評価用X線回折装置

    施設/設備: 設備

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      総合研究棟2階 超薄膜構造解析X線回折装置室 (E3)

      日本

    設備の詳細

    説明

    試料にX線を照射し、回折角を測定することにより結晶相の同定を行う。
    初めて利用する場合は、利用前に要講習。

    詳細

    名前ATX-E
    取得日2002/01/01