設備の詳細
説明
試料にX線を照射して回折X線を解析することにより、試料の残留応力及び集合組織を測定します。
操作方法と利用範囲…結晶性のバルク試料
操作方法と利用範囲…結晶性のバルク試料
詳細
| 名前 | RINT2000シリーズ |
|---|---|
| 取得日 | 2002/01/01 |
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総合研究棟2階 超薄膜構造解析X線回折装置室 （E3）
日本
総合研究棟2階 超薄膜構造解析X線回折装置室 （E3）
日本
| 名前 | RINT2000シリーズ |
|---|---|
| 取得日 | 2002/01/01 |