コヒーレントX線を用いたX線散漫散乱法の開発研究

  • 飯田, 敏 (Principal Investigator)

Project Details

Abstract

直交スリットを用いたときのフラウンホ-ファー回折パターンには乱れが観測された.この原因がスリットの不良によるものであろうとして,ピンホールおよびスリットの製作を試みた.今後はこれらの光学素子の評価を実施する予定である.
StatusFinished
Effective start/end date1996/01/011996/12/31

Funding

  • Japan Society for the Promotion of Science: ¥1,800,000.00

Keywords

  • X線散漫散乱
  • シンクロトロン放射光
  • コヒーレンス
  • スペックル
  • フラウンホ-ファー回折