Equipments Details
Description
X線解析装置は、試料によるX線の回折を測定し、同定や配向性、結晶構造等の解析を行う装置です。 本装置には光学エンコーダ搭載ステッピングモーターによる高精度ゴニオメータを採用したω、2θの2軸に加え、χ、φ、X、Y、Z軸の5軸を組み合わせた多目的試料ステージを備えています。また、光学系も通常の発散スリット以外にもミラーや、ハイブリットモノクロメータや、1次元検出器も備えていますので、粉末試料から薄膜、結晶材料等の多様な測定に対応しています。
利用範囲:粉末試料、薄膜、結晶材料等
利用範囲:粉末試料、薄膜、結晶材料等
Details
Name | D8 DISCOVER |
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Acquisition date | 2009/01/01 |